DB11/ 634-2009 建筑物电子系统防雷装置检测技术规范

作者:标准资料网 时间:2024-05-18 07:04:38   浏览:8706   来源:标准资料网
下载地址: 点击此处下载
基本信息
标准名称:建筑物电子系统防雷装置检测技术规范
英文名称:Technical inspection code for lightning protection
发布部门:北京市质量技术监督局
发布日期:2009-02-06
实施日期:2009-08-01
首发日期:
作废日期:
主管部门:北京市气象局
提出单位:北京市气象局
归口单位:北京市气象局
起草单位:北京市避雷装置安全检测中心
起草人:宋平健,宋海岩,李银生,钱慕晖,轩京平、王长龙等
出版社:中国标准出版社
出版日期:2009-08-01
页数:25页
适用范围

本标准规定了建筑物电子系统防雷装置的检测内容和技术要求、检测方法、检测数据整理和判定、
检测报告和整改意见等内容。
本标准适用于北京市建筑物电子系统防雷装置性能的检测。

前言

没有内容

目录

前言 I 1 范围1 2 规范性引用文件1 3 术语和定义1 4 检测内容和技术要求2 5 检测方法8 6 检测数据整理和判定9 7 检测报告和整改意见9 附录A(规范性附录)防雷区LPZ10 附录B(规范性附录)电源电涌保护器的接线形式和最大持续运行电压的选择11 附录C(规范性附录)电源电涌保护器的有效电压保护水平Up/f 12 附录D(规范性附录)电子系统线缆与其他管线、电力电缆的间距13 附录E(资料性附录)电子系统防雷检测常用仪器15 附录F(规范性附录)检测数据记录表16 附录G(规范性附录)检测报告21 附录H(规范性附录)防雷整改意见22

引用标准

下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。
GB/T 8170—2008 数值修约规则与极限数值的表示和判定
GB 16895.22—2004 建筑物电气装置 第5-53部分:电气设备的选择和安装 隔离、开关和控制设备 第534节:过电压保护电器(idt IEC 60364-5-53:2001 A1:2002)
GB/T 17949.1—2000 接地系统的土壤电阻率、接地阻抗和地面电位测量导则 第1部分:常规测量(idt ANSI/IEEE 81:1983)
GB/T 18802.12—2006 低压配电系统的电涌保护器(SPD) 第12部分:选择和使用导则(idt IEC61643-12:2002)
GB 18802.331—2007 低压电涌保护器元件 第331部分:金属氧化物压敏电阻(MOV)规范(idtIEC 61643-331:2003)
GB/T 19663—2005 信息系统雷电防护术语
GB/T 21431—2008 建筑物防雷装置检测技术规范
GB/T 21714.4—2008 雷电防护 第4部分:建筑物内电气和电子系统 (idt IEC 62305-4:2006)
GB 50057—1994 建筑物防雷设计规范(2000年版)
GB 50200—1994 有线电视系统工程设计规范
GB 50311—2007 综合布线系统工程设计规范
GB 50343—2004 建筑物电子信息系统防雷技术规范
GB 50348—2004 安全防范工程技术规范
GB 50394—2007 入侵报警系统工程设计规范
GA 267—2000 计算机信息系统雷电电磁脉冲安全防护规范
GA/T 670—2006 安全防范系统雷电浪涌防护技术要求
QX 2—2000 新一代天气雷达站防雷技术规范
YD 5098—2005 通信局(站)防雷与接地工程设计规范

所属分类: 农业 农业和林业
下载地址: 点击此处下载
【英文标准名称】:TestMethodforMeasuringDiameterofSemiconductorWafers
【原文标准名称】:测量半导体垫片直径的试验方法
【标准号】:ASTMF613-1993
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:1993
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:F01.06
【标准类型】:(TestMethod)
【标准水平】:()
【中文主题词】:垫片;测量;硅;试验;直径;垫圈;电子工程
【英文主题词】:Diameter-electroniccomponents/devices;Electricalconductors-semiconductors;siliconslices/wafers-diameter,test,;Silicon-semiconductorapplications;slices/wafers-diameter,test
【摘要】:1.1Thistestmethodcoversmeasurementofthediameterofsiliconwafersupto205mmindiameter.Othersemiconductormaterialswithacircularshapecanalsobemeasured.1.2Thistestmethodisindependentofsurfacefinishandmaybeperf
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:29_045
【页数】:5P.;A4
【正文语种】:


Product Code:SAE J760
Title:Dimensional Specifications for General Service Sealed Lighting Units*HS-34/08* (Cancelled Dec 2008)
Issuing Committee:Road Illumination Devices Standards Committee
Scope:This SAE Recommended Practice provides dimensional specifications for general service sealed lighting units, intended for use in such applications as motorcycle headlamps, military headlamps, industrial machinery headlamps, fog lamps, spot lamps, etc. See Figures 1 and 2 and Tables 1 and 2.